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掃描電子顯微鏡（SEM）是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的高精度觀察手段，它利用聚焦的高能電子束來掃描樣品，通過收集和分析光束與物質(zhì)相互作用產(chǎn)生的各種物理信息，如二次電子、背散射電子等，將這些信息轉(zhuǎn)換為圖像，從而實(shí)現(xiàn)對物質(zhì)微觀形貌的表征。